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主营产品:液晶盒厚分光测试仪;彩色滤光片分光测试仪;紫外?可视?近红外分光光度计;反射分光膜厚计;led等光源评价机器;偏光片分光测试仪;相位差片分光测试仪;傅利叶变换红外分光光度计;光散乱光度计(粒径?粒径分布;分子量);高感度荧光光度计;发光、反射、透过?吸收测试系统;动画特性测试装置
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大塚电子 图 |太仓光学检测设备|光学检测设备

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化工 - 实验室器皿 - 分析仪器
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大塚电子(苏州)有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在led、 oled、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机el显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询!

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多通道数据自动拼接成一幅完整的光谱

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各种因素对吸收谱带的影响表现为谱带位移、谱带强度的变化、谱带精细结构的出现或消失等。谱带位移包括蓝移(或紫移,光学检测设备,hypsochromic shift or blue shift))和红移(bathochromic shift or red shift)。蓝移(或紫移)指吸收峰向短波长移动,红移指吸收峰向长波长移动。吸收峰强度变化包括增色效应(hyperchromic effect)和减色效应(hypochromic effect)。前者指吸收强度增加,后者指吸收强度减小。各种因素对吸收谱带的影响结果总结于右图中。


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